资讯中心

外媒:三星支持的垂直芯片研发项目旨在将HBM的I/O性能提升10倍


2026/04/13 芯片 / 三星 admin

尽管JEDEC预计将放宽HBM的高度限制,将HBM4的高度上限从775微米(µm)提高到约900微米(µm),但业界仍在不断探索突破传统HBM架构结构限制的方法。

据ET News报道,三星电子未来技术研究计划下的“垂直芯片”先进封装项目已取得显著进展。值得注意的是,该报告指出,这种方法据称可将输入/输出 (I/O) 密度提高 10 倍,并将带宽提高约 4 倍。

ET News 报道称,由 KAIST 教授 Kwon Ji-min 担任首席研究员的该项目取得了一项重要的学术里程碑,其关于垂直芯片架构的论文已被 2026 年 IEEE 超大规模集成电路技术与电路研讨会接受,将于 6 月在 IEEE 上发表。该研讨会是半导体器件和电路集成领域最负盛名的全球会议之一。

报道解释说,该项目的主要突破之一在于其垂直芯片(V-die)技术,该技术通过将芯片竖立成 90 度角来重新定向芯片,就像书架上的书一样。


上一则
晶晨半导体再次递表港交所
下一则
日月光控股高雄仁武新厂奠基,预计2026年开工建设六座新工厂